PW-CTS55 TEC快速冷熱沖擊試驗機(接觸式熱流儀)
產品概述: PW高低溫控制系統通過測試頭與DUT之間直接接觸,將DUT的溫度(殼溫或者結 溫)調整到目標溫度點進行相應的性能測試。同時適
產品概述:
PW高低溫控制系統通過測試頭與DUT之間直接接觸,將DUT的溫度(殼溫或者結 溫)調整到目標溫度點進行相應的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用電路引起的不確定性。
該設備的作用是幫助客戶在半導體、電子和其他設備的開發和制造過程中進行溫度測試和驗證。可以快速實現高低溫環境變化,工作效率極高,可以節省大量的研發時間。
系統組成:
主機:可根據具體需求選取合適的主機型號. 這是整個控制系統的核心。
測試頭前端:實現測試頭和待測芯片的連接以及能量傳導。測試架一方面起到固定的作用,另一方面也適用于沒有socket器件的測試。
關于主機:
1、制冷功率曲線和測試產功率關系如下圖所示:
該設備可以達到的最低溫度與DUT的熱功率有關。 假如DUT熱功率是30W(橫軸), 該設備可以把殼溫降到-65℃(縱軸) 。
2、主要特點總結
a、該型號主機功率較大,可以滿足大部分的芯片測試要求, 即使DUT的熱功耗達到30W ,該設備也可以輕松達到-40℃并長時間穩定在該溫度點。
b、升降溫速率快:從常溫+25℃降到-40℃小于2min,從+125℃降到常溫+25℃小于2min。
c、也是目前客戶最多的選擇,代表客戶有華為海思半導體。
d、主機重量適中(43Kg),尺寸(L) 460mm x (W) 400mm x (H)365mm,可以很方便地移動。
e、噪音較小,可以給測試工程師營造一個安靜的工作環境。
f、不需要任何維護保養,插電(220V)即可使用。
關于測試頭前端 (針對已焊接的芯片):
1、標準測試架:對測試頭進行固定和支撐以及實現升降功能。
2、測試頭:測試前端的主體部分。
3、柱塞:通過該柱塞實現能量傳遞, 內置有溫度傳感器,實時反饋芯片的真實溫度。一般需根據不同DUT尺寸加工。
4、測試頭防冷凝屏蔽罩:使用一種耐高低溫材料罩住測試頭形成一個腔體,測試頭內部會吹出干燥空氣,這樣可以防止低溫下在這個腔體內產生冷凝水或者結霜。
5、 背面防冷凝屏蔽罩:從氣嘴通入干燥空氣, 防止PCB底部冷凝或結霜。